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Modeling of faulty implantable MEMS pressure sensors

Comunicación a Congreso

2014 IEEE International Conference on Microelectronics (ICM)

 Autoría: JOSE ANGEL MIGUEL DIAZ, YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 2014

Behavioral model of folded and interpolated ADCs for test evaluation - Case study: Structural DfT method

Artículo de Revista

Microelectronics Journal, 2013, 44(5), 382-392

 Autoría: ROMAN MOZUELOS GARCIA, YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 16/05/2013

Structural test approach for embedded analog circuits based on a built-in current sensor

Artículo de Revista

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2011, 27(2), 177-192

 Autoría: ROMAN MOZUELOS GARCIA, YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 01/04/2011

Design-for-Test method for high-speed ADCs: behavioral description and optimization

Comunicación a Congreso

Proceedings of the 14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS): April 13-15 2011 Cottbus, Germany

 Autoría: YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, ROMAN MOZUELOS GARCIA, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 2011

Structural DfT strategy for high-speed ADCs

Comunicación a Congreso

Emerging trends in technological innovation: First IFIP WG 5.5/SOCOLNET Doctoral Conference on Computing, Electrical and Industrial Systems, DoCEIS 2010, Costa de Caparica, Portugal, February 22-24, 2010, Proceedings

 Autoría: YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, ROMAN MOZUELOS GARCIA, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 2010

Test based on built-in current sensors for mixed-signal circuits

Comunicación a Congreso

Emerging trends in technological innovation: First IFIP WG 5.5/SOCOLNET Doctoral Conference on Computing, Electrical and Industrial Systems, DoCEIS 2010, Costa de Caparica, Portugal, February 22-24, 2010, Proceedings

 Autoría: ROMAN MOZUELOS GARCIA, YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 2010

Test of embedded analog circuits based on a built-in current sensor

Comunicación a Congreso

15th IEEE European Test Symposium: May 24-28 2010, Prague, Czech Republic

 Autoría: ROMAN MOZUELOS GARCIA, YOLANDA LECHUGA SOLAEGUI, MARIA DEL MAR MARTINEZ SOLORZANO, SALVADOR BRACHO DEL PINO

 2010

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