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Abstract: In this note, we study a fractional Poisson-Nernst-Planck equation modeling a semiconductor device. We prove several decay estimates for the Lebesgue and Sobolev norms in one, two and three dimensions. We also provide the first term of the asymptotic expansion as t? ?. © 2016, Springer International Publishing.
Fuente: Annales Henri Poincaré, 2016, 17, 3473-3498
Editorial: Springer
Año de publicación: 2016
Nº de páginas: 26
Tipo de publicación: Artículo de Revista
DOI: 10.1007/s00023-016-0493-6
ISSN: 1424-0637,1424-0661
Url de la publicación: https://doi.org/10.1007/s00023-016-0493-6
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RAFAEL GRANERO BELINCHON
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