Fuente: IEEE Journal of Quantum Electronics, Volume: 52, Issue: 8, (2016)
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Fecha de publicación: 01/08/2016
Nº de páginas: 8
Tipo de publicación: Artículo de Revista
DOI: 10.1109/JQE.2016.2587099
ISSN: 0018-9197,1558-1713
Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/JQE.2016.2587099