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15th IEEE European Test Symposium: May 24-28 2010, Prague, Czech Republic

Comunicaciones del congreso o publicaciones relacionadas con autores/as de la Universidad de Cantabria

Test of embedded analog circuits based on a built-in current sensor - Comunicación a Congreso

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

Año de publicación: 2010

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

ISBN: 978-1-4244-5835-6

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