Autoría: Pérez J., Sánchez P., Martínez M.,
Congreso: IS&T/SPIE Electronic Imaging (2010 : San José, California)
Editorial: SPIE Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Fecha de publicación: 01/02/2010
Nº de páginas: 11
Tipo de publicación: Comunicación a Congreso
DOI: 10.1117/12.838352
ISSN: 0277-786X,1996-756X
Proyecto español: TEC2008-04107
Url de la publicación: https://doi.org/10.1117/12.838352