Autoría: Sanz J., Saiz J., Moreno F., González F.,
Congreso: SPIE: Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces (2º : 2010 : San Diego, California)
Editorial: SPIE Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Año de publicación: 2010
Nº de páginas: 7
Tipo de publicación: Comunicación a Congreso
DOI: 10.1117/12.862257
ISSN: 0277-786X,1996-756X
Url de la publicación: https://doi.org/10.1117/12.862257