Autoría: Yoo T.S.H., Fernández A., Moreno F., Saiz J.M., Ossikovski R., Garcia-Caurel E.,
Congreso: SPIE Photonics Europe 2018: Optical Micro- and Nanometrology (7º : 2018 : Estrasburgo)
Editorial: SPIE Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Fecha de publicación: 01/05/2018
Nº de páginas: 11
Tipo de publicación: Comunicación a Congreso
DOI: 10.1117/12.2306170
ISSN: 0277-786X,1996-756X
Url de la publicación: https://doi.org/10.1117/12.2306170