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The highest characterization potentialities of sub-20 meV spatially resolved STEM-EELS

Otras comunicaciones del congreso o articulos relacionados con autores/as de la Universidad de Cantabria

 Congreso: European Microscopy Congress 2016 : Proceeding

 Editorial: Willey

 Año de publicación: 2016

 Nº de páginas: 2

 Páginas: 967 a 968

 Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

 DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.7043

 ISBN: 978-3-5273-4297-6

 Url de la publicación: https://doi.org/10.1002/9783527808465.EMC2016.7043

Autoría

MARCH, KATIA

LUIS MANUEL LIZ MARZAN

AOKI, TOSHIHIRO

REZ, PETER

COHEN, HAGAI

CROZIER, PETER A.

KRIVANEK, ONDREJ L.

STÉPHAN, ODILE

KOCIAK, MATHIEU