Congreso: 2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2016): San Francisco, California, USA, 22-27 May 2016

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

 Año de publicación: 2016

Nº de páginas: 4

Páginas: 515 a 518

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

 DOI: 10.1109/MWSYM.2016.7540077

ISBN: 978-1-5090-0699-1

 Proyecto español: TEC2014-58341-C4-1-R

Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/MWSYM.2016.7540077

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