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Congreso: IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2017): 4-9 June 2017, Honolulu, Hawai
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.
Año de publicación: 2017
Nº de páginas: 4
Páginas: 318 a 321
Tipo de publicación: Comunicación a Congreso
DOI: 10.1109/MWSYM.2017.8059108
ISBN: 978-1-5090-6360-4
Proyecto español: TEC2014-58341-C4-1-R
Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/MWSYM.2017.8059108
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