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Statistical functional depth with applications

 Congreso: Scientific Programme and Abstracts: CEB 2017. XVI Spanish Biometric Conference (Sevilla, 2017)

Editorial: Univeridad de Sevilla

 Año de publicación: 2017

Nº de páginas: 2

Páginas: 65 a 66

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

ISBN: 978-84-472-1928-5

Autoría

BATTEY, HEATHER