Buscar

Estamos realizando la búsqueda. Por favor, espere...

Statistical functional depth with applications

 Congreso: Scientific Programme and Abstracts: CEB 2017. XVI Spanish Biometric Conference (Sevilla, 2017)

 Editorial: Univeridad de Sevilla

 Año de publicación: 2017

 Nº de páginas: 2

 Páginas: 65 a 66

 Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

 ISBN: 978-84-472-1928-5

Autoría

BATTEY, HEATHER