Congreso: 17th Microoptics Conference (MOC): 30 October - 2 November 2011, Sendai, Japan

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

 Año de publicación: 2011

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

ISBN: 978-1-4577-1344-6

Proyecto español: TEC2010-20224-C02-02

Url de la publicación: https://ieeexplore.ieee.org/document/6110259