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Estudio, Caracterización y Modelado Avanzado de los Efectos Térmicos y Trampa en los Transistores MESFET y HEMT de Microondas

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 Autoría: MOHAMED CHAIBI

 Universidad de impartición: UNIVERSIDAD DE CANTABRIA

Doctorado en Tecnologías de la Información y Comunicaciones en Redes Móviles

 Fecha de defensa: 22/01/2010

 Dirección: TOMAS FERNANDEZ IBAÑEZ 

 

Ingeniería y Arquitectura

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