Detalle_Tesis

Estudio y Modelado de la Fiabilidad y Estrés Térmico en Transistores GaN para Aplicaciones de Microondas

Autoría: ASMAE MIMOUNI

Universidad de impartición: UNIVERSIDAD DE CANTABRIA

Doctorado en Tecnologías de la Información y Comunicaciones en Redes Móviles

Fecha de defensa: 20/12/2012

Tesis con Mención Internacional

Ingeniería y Arquitectura