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Estudio y Modelado de la Fiabilidad y Estrés Térmico en Transistores GaN para Aplicaciones de Microondas

 Autoría: ASMAE MIMOUNI

 Universidad de impartición: UNIVERSIDAD DE CANTABRIA

Doctorado en Tecnologías de la Información y Comunicaciones en Redes Móviles

 Fecha de defensa: 20/12/2012

 Dirección: TOMAS FERNANDEZ IBAÑEZ 

 Tesis con Mención Internacional

 

Ingeniería y Arquitectura