Fuente: IEEE Instrumentation and Measurement Magazine, 2020, 23(1), 56-63
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Fecha de publicación: 01/02/2020
Nº de páginas: 8
Tipo de publicación: Artículo de Revista
DOI: 10.1109/MIM.2020.8979525
ISSN: 1094-6969,1941-0123
Proyecto español: PGC2018-099530-B-C31
Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/MIM.2020.8979525