Autoría: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03022
Editorial: Institute of Physics
Año de publicación: 2010
Nº de páginas: 49
Tipo de publicación: Artículo de Revista
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03022
ISSN: 1748-0221
Url de la publicación: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03022