Authorship: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03016
Publisher: Institute of Physics
Year of publication: 2010
No. of pages: 40
Publication type: Article
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03016
ISSN: 1748-0221
Publication Url: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03016