Authorship: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03004
Publisher: Institute of Physics
Year of publication: 2010
No. of pages: 34
Publication type: Article
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03004
ISSN: 1748-0221
Publication Url: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03004