Authorship: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03018
Publisher: Institute of Physics
Year of publication: 2010
No. of pages: 41
Publication type: Article
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03018
ISSN: 1748-0221
Publication Url: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03018