Authorship: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03002
Publisher: Institute of Physics
Year of publication: 2010
No. of pages: 53
Publication type: Article
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03002
ISSN: 1748-0221
Publication Url: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03002