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Improving yield on RF-CMOS ICs

Otras comunicaciones del congreso o articulos relacionados con autores/as de la Universidad de Cantabria

 Congreso: Spanish Conference on Electron Devices (CDE 2013): Proceedings of a meeting held 12-14 February 2013, Valladolid, Spain

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

 Año de publicación: 2013

Nº de páginas: 104

Páginas: 237 a 340

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

 DOI: 10.1109/CDE.2013.6481386

ISBN: 978-1-4673-4666-5

 Proyecto español: TEC2009-14219-C03-03

Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/CDE.2013.6481386

Autoría

YOLANDA JATO LLANO