Autoría: Mozuelos R., Lechuga Y., Martínez M., Bracho S.,
Fuente: Microelectronics Journal, 2013, 44(5), 382-392
Editorial: Elsevier Ltd
Fecha de publicación: 16/05/2013
Nº de páginas: 11
Tipo de publicación: Artículo de Revista
DOI: 10.1016/j.mejo.2013.02.016
ISSN: 0026-2692,1879-2391
Url de la publicación: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2013.02.016