Congreso: 15th IEEE European Test Symposium: May 24-28 2010, Prague, Czech Republic

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

 Año de publicación: 2010

Nº de páginas: 6

Páginas: 164 a 169

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

 DOI: 10.1109/ETSYM.2010.5512765

ISBN: 978-1-4244-5835-6

Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/ETSYM.2010.5512765