Authorship: Chatrchyan S., Khachatryan V., Sirunyan A.M., Adam W., Arnold B., Bergauer H., Bergauer T., Dragicevic M., Eichberger M., Erö J., Friedl M., Frühwirth R., Ghete V.M., Hammer J., Hansel S., Hoch M., Hörmann N., Hrubec J., Jeitler M., Kasieczka G., Kastner K., Krammer M., Liko D., De Magrans Abril I., Mikulec I., Mittermayr F., Neuherz B., Oberegger M., Padrta M., Pernicka M., Rohringer H., Schmid S., Schöfbeck R., Schreiner T., S
Fuente: Journal of Instrumentation, 2010, 5, T03006
Publisher: Institute of Physics
Year of publication: 2010
No. of pages: 43
Publication type: Artículo de Revista
DOI: 10.1088/1748-0221/5/03/T03006
ISSN: 1748-0221
Publication Url: https://doi.org/10.1088/1748-0221/5/03/T03006