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Circuit-level stability and bifurcation analysis of non-foster circuits

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Congreso: IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2017): 4-9 June 2017, Honolulu, Hawai

Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.

Año de publicación: 2017

Nº de páginas: 4

Páginas: 340 a 343

Tipo de publicación: Comunicación a Congreso

DOI: 10.1109/MWSYM.2017.8059115

ISBN: 978-1-5090-6360-4

Proyecto español: TEC2014-60283-C3-1-R

Url de la publicación: https://doi.org/10.1109/MWSYM.2017.8059115

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Autoría

ALMUDENA SUAREZ RODRIGUEZ

FRANCO ARIEL RAMIREZ TERAN

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